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商品編號：11006

價格：詢價

產地：日本更新時間：2020-10-20 14:08

品牌：JEOL型號：JCM-5700

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　　掃描電子顯微鏡（SEM)與光學顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點。相反，得不到象光學顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點，可以廣泛應用于科研和生產。

鮮明的SEM圖像上進行高精度測量

從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進行長度和角度測量，即在鮮明的圖像上進行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件（選購件）打開并進行測量。

3D觀察-測量（選購）

利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點，可以進行立體的高度測量。同一個視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進行高度測量。

不僅可以觀察圖像，還可以進行成分分析

不僅可以利用二次電子信息進行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進行異物及多層膜觀察。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進行元素分析。日本電子產能譜儀JED-2300可以與主機實現(xiàn)一體化，將點鏡擴展為分析型點鏡。

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