CSI原子力顯微鏡的詳細介紹
多種工作模式
接觸模式
輕敲模式
CAFM（導(dǎo)電AFM）
PFM（壓電力）
MFM/EFM（磁力/靜電力）
FMM（力調(diào)制）
HD-KFM（開爾文力）
ResiScope（擴散電阻）
STM
*佳的電特性測量模塊
HD-KFM :
市場上的分辨率和靈敏度
更好的算法，更好的鎖相靈敏度
易用使用，自動調(diào)用智能算法
ResiScope :
10個數(shù)量***測量范圍――從100Ω~1TΩ之間（競爭者*多只覆蓋了7個數(shù)量***）
較低的電流流經(jīng)探針/樣品（不會局部氧化，不會因為高電流損害探針/樣品）
同時兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，不用做任何變動而丟失樣品的位置！
Soft-ResiScope :
仍然有10個數(shù)量***的測量范圍，更適合軟性樣品成像和電阻/電流測量。
適用于多種環(huán)境的測量
溫度控制：
可達200°
對于壓電器件可以進行更穩(wěn)定的加熱分離（不漂移）
與大氣控制、液體模式和所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
大氣控制（氣體和濕度）：
濕度控制不會損害光電探測器和激光器
光電探測器和激光器可以正常調(diào)節(jié)對齊
容易和快速設(shè)置
與所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容
液體測量：
壓電保護
激光容易對準（可以利用頂部CCD在空氣中對準激光）
非常穩(wěn)定的輕敲模式的使用
高品質(zhì)的測量
平移式壓電掃描器：
三軸獨立
低噪音，具有原子***分辨率
100μm掃描，Z方向9μm
智能化AFM
低噪聲低功耗相干激光器
低噪音控制器（低電壓驅(qū)動壓電掃描器）
24位DAC控制
大范圍掃描，高分辨率，且無需更換掃描器。
易于使用
自動調(diào)諧集成鎖相
自動設(shè)置的電子系統(tǒng)
頂部和側(cè)面CCD視圖
直觀的軟件和預(yù)先配置的AFM模式
主要的參數(shù)指標
1、XY掃描分辨率： 0.06nm
2、Z掃描分辨率： 0.006nm
3、掃描范圍：XY向100um，Z向9um
4、超低噪音高壓：典型值：＜0.01 mV RMS
5、數(shù)據(jù)采樣點：高達4096
6、DAC輸出：6個D/A轉(zhuǎn)換器-24位
7、ADC輸入：8個A/D轉(zhuǎn)換器-16位
8、集成鎖相：高達6MHz
9、控制器電源：AC 100~240 V,47~63 Hz
10、計算機接口：USB2.0/3.0
11、運行環(huán)境：運行于Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)
CSI原子力顯微鏡應(yīng)用領(lǐng)域
金屬，納米材料，高分子聚合物，薄膜&涂層，DNA，蛋白質(zhì)，半導(dǎo)體，光電材料，
太陽能電池，蓄電池，電化學(xué)領(lǐng)域，磁性材料，壓電領(lǐng)域，分子電子或組織，導(dǎo)電材料表面表征…
CSI原子力顯微鏡應(yīng)用實例
C36分子 掃描范圍250nm DNA 掃描范圍1μm
高分子聚合物 (PDES) 掃描范圍12μm
石墨烯 掃描范圍10μm
磁性三角形結(jié)構(gòu) 掃描范圍4.5μm
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