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原子力顯微鏡（AFM）
JPK原子力顯微鏡(AFM/SPM)
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:16
品 牌：型 號： NanoWizard®
狀 態：正常點擊量：1824
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儀器簡介：
德***JPK公司（www.jpk.com)生產的NanoWizard?原子力顯微鏡專注于軟物質與生物科學領域的，高解析成像，其度獨特的設計方式提供了從微觀光學顯微鏡觀測到納米尺度高清晰成像的完美銜接，同時與傳統設計方法不同的是JPK公司的設計方式使得光學顯微鏡觀測性能與原子力顯微鏡的測量性能都不受影響，使得高分辨、原位、動態的原子力成像研究更加便捷。
NanoWizard?原子力顯微鏡可實現高清晰的大氣或溶液相成像、進行單分子或者細胞的拉力實驗、進行精確的納米操控與刻蝕。100×100×15微米的掃描范圍適用于生物細胞等大體積的樣品，且平板掃描器規避了管式掃描器的缺點，采用電容式位置傳感器實現xy平面精確的定位。掃描器的設計方式兼容所有的顯微鏡的工作模式，如亮場、暗場、熒光等。采用探針掃描方式與防水設計，保證了在實驗過程中壓電陶瓷的安全。人性化的軟件設計使得操作更加方便、快捷、準確，且可通過腳本實現特定的實驗需要。
技術參數：
1. 采用PI平板壓電掃描器，無管式壓電管的bow效應，能同時進行光學顯微鏡與原子力顯微鏡量測
2. 掃描范圍：100×100×15微米（閉環）
3. 探針掃描設計，液相量測情況下不會損壞壓電陶瓷
4. 分辨率：云母晶格圖像（接觸模式、高解析模式）
5. 針尖定位噪聲水平（RMS）
大氣條件下：垂直方向小于0.08nm，水平方向小于1nm（閉環）；
液相條件下：懸臂偏移小于0.3nm（彈性系數0.03N/m，溫度20攝氏度）
6. 的電容式探針位置傳感器，全程xy掃描線性化達0.03％，保證探針的重復定位與長時間穩定定位
7. 智能馬達進針，漂移跟蹤設計消除樣品加熱膨脹的影響
8. xyz三軸掃描方向硬件線性化設計提供了高端的量測性能
9. 采用850nm波長激光源，不會影響匹配倒置光鏡的光學量測
10. 探針彈性系數的熱噪聲方法自動校正
主要特點：
工作模式
1. 包括接觸、側向力、動態模式如間歇式接觸模式、非接觸模式、相差、拉力力譜、力成像、導電AFM等所有AFM標準模式，亦能進行納米刻蝕、納米操控，細胞與基底或者細胞間相互作用力譜實驗
2. 所有操作可在特定氣體、大氣和液相（如生理緩沖液等）
3. 化學穩定的探針夾具，由石英玻璃與鍍金的不銹鋼彈性片組成，夾具可進行超聲、表面活性劑、酸以及溶劑超聲清洗
4. 的拉力力譜設計，可用于單分子、生物膜、黏附與彈性量測等研究
5. 量測中可在100微米×100微米進行掃描范圍的快速任意選取
6. 可擴展成100微米長程z軸（CellHesion Development Kit）用于細胞黏附的研究，以及針尖增強光譜（TAO Module，原子力－光學聯用系統）
7. QI?(Quantitative Imaging) mode (http://www.jpk.com/qi-mode-overview.662.en.html)
光學性能
1. 所有主流研究***倒置光學顯微鏡（Zeiss、Olympus、Leica、Nikon）可匹配JPK掃描頭
2. 與AFM匹配的光學性能如亮場、暗場、相差、熒光、DIC、CLSM、TIRF、FRET等所有使用功能不會降低、同時AFM性能亦可完全使用
樣品臺
1. 穩定的機械設計方式承載掃描樣品與AFM掃描頭
2. 樣品尺寸：直徑14cm，高2cm
生物型
適用于倒置光鏡的透光照明模式（相差、DIC等）
適用于標準載具如培養皿（至55mm）、載玻片、蓋玻片等
適用于高NA值的物鏡
標準型
對于非透明樣品可使用正置蔡司熒光顯微鏡
適用于標準載具如培養皿（至75mm直徑）、載玻片等
足夠空間放置JPK或客戶自制液相池
樣品磁性固定
環境控制配件可供選擇
可根據用戶需要配置手套箱
部分客戶發表的papers：http://www.jpk.com/index.422.en.html
滬公網安備31011502016460號
