SENDURO®全自動光譜橢偏儀包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內(nèi)即可完成的快速數(shù)據(jù)分析。橢圓儀的設(shè)計是為了便于操作：放置樣品，自動樣品對準，自動測量和分析結(jié)果。在全自動模式下使用光譜橢偏儀非常適合于質(zhì)量控制和研發(fā)中的常規(guī)應(yīng)用。
建模
測量參數(shù)可以模擬作為波長、光子能量、倒數(shù)厘米、入射角、時間、溫度、薄膜厚度測量和其他參數(shù)的函數(shù)
自動掃描
我們光譜橢偏儀的自動掃描的選項具有預定義或用戶定義的模式、廣泛的統(tǒng)計以及數(shù)據(jù)的圖形顯示，如2D顏色、灰度、輪廓、+/-偏離平均值和3D繪圖。
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交互模式：
- 設(shè)定測量參數(shù)并開始薄膜厚度測量
- 通過從材料庫或從已有的散射模型中拖放來構(gòu)建模型
- 定義和改變參數(shù)以將計算的光譜與實測光譜擬合
- 交互式改進以實現(xiàn)模型
- 通過從預定義或定制的模板中進行選擇，將結(jié)果作為word文檔報告輸出
- 將所有實驗數(shù)據(jù)、協(xié)議和記錄保存在同***個實驗文件中
配方模式：
SpectraRay/4配方模式的優(yōu)點是兩步操作
該配方包括厚度測量參數(shù)、模型、擬合參數(shù)和報告模板。
SpectraRay/4，SENTECH所有的光譜橢偏測量軟件，包括數(shù)據(jù)采集、建模、擬合和橢偏測量、反射和傳輸數(shù)據(jù)的擴展報告。它支持可變角度、多實驗和組合光度測量。SpectraRay/4包括基于SENTECH厚度測量和文獻數(shù)據(jù)的龐大的材料數(shù)據(jù)庫。大量的散射模型允許對幾乎任何類型的材料建模。
SpectraRay/4提供了用戶友好的面向工作流的接口來操作SENTECH光譜橢偏測量工具以及建模、擬合和表示橢偏測量數(shù)據(jù)的綜合工具集。用戶界面結(jié)合了面向操作人員的配方模式以及用于交互式測量和建模的高***模式。
SpectraRay/4具有單軸和雙軸各向異性材料測量、薄膜厚度測量和層測量的功能。該軟件可處理樣品效應(yīng)，如去極化，非均勻性，散射(米勒矩陣)，以及背面反射。
SpectraRay/4包括用于數(shù)據(jù)導入和導出(包括ASCII)、文件管理、光譜的算術(shù)操作、顯示、打印和報告輸出(Word文件格式*.doc)的通用光譜橢偏測量軟件包的所有實用程序。腳本程序使得它非常靈活，適用于自動化日常測量，為苛刻的應(yīng)用所研發(fā)，并可控制第三方硬件，如傳感器，加熱臺，樣品電池或低溫恒溫器。
滬公網(wǎng)安備31011502016460號
