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***、T-4系列軟針

T-4-10針尖在電鏡下掃描成像

T-4系列軟針較多的應(yīng)用于點(diǎn)測(cè)集成電路的線(xiàn)路，電

極，或者 FIB(聚焦離子束)制作的  mini電極。

T-4系列軟針的結(jié)構(gòu)采用不同直徑鎢材質(zhì)針須焊接

于鍍錫的銅材質(zhì)針桿上。

其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶(hù)反饋比較有優(yōu)勢(shì)的

型號(hào)，因?yàn)槠溽橅氈睆捷^細(xì)，具有良好的彎曲彈性，

能夠極大的減少對(duì)芯片電極的損害，在部分震動(dòng)環(huán)

境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

T-4軟針不建議在敏感節(jié)點(diǎn)使用，因?yàn)闀?huì)產(chǎn)生電容負(fù)

載的問(wèn)題，在此環(huán)境下，建議使用高阻抗  Picoprobes

型號(hào)

針須直徑

針尖直徑

針須長(zhǎng)度

T-4-5

5微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

ST系列硬探針

ST系列探針尺寸圖

ST系列硬針是  0.020 inch (0.51mm)直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針

尖直徑，長(zhǎng)度為 1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線(xiàn)

路點(diǎn)測(cè)。

ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果

選擇鍍鎳則型號(hào)后面增加“NP”。